
通达智能的YMS良率管理分析系统以拖拽方式建立分析流程,支持STDF与CSV等测试数据源,基于网页访问不限终端与人数,供品质与工艺岗位监控良率、定位异常。
| 产品名称 | YMS良率管理分析系统 |
| 所属厂商 | 通达智能 |
| 产品分类 | 质量管理系统(QMS)·半导体良率分析系统 |
| 核心能力 | 拖拽式分析流程、内置统计模型库、CP叠图分析 |
| 应用场景 | 批次测试数据分析、良率异常定位排查、新产品导入验证 |
| 投资视角 | 半导体良率分析系统投入的规模与晶圆测试数据分析软件的收益节奏可分阶段对应 |
| 合规关注 | 晶圆测试数据分析软件数据的留存与访问需符合行业监管的具体要求 |
| 效果追溯 | 半导体良率分析系统的运行记录为晶圆测试数据分析软件场景的过程复盘提供依据 |
| 服务边界 | 晶圆测试数据分析软件相关的第三方配合事项在实施清单中单独列明 |
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