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米格实验室半导体与新材料领域专业科研检测平台

米格实验室半导体与新材料科研检测平台,聚焦SEMI检测认证服务,提供材料分析、器件测试等专业检测。覆盖半导体、新材料全链条,依托高精度设备与资深团队,助力企业加速研发进程,提升产品合规性与竞争力。
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icon产品与服务icon

6大技术模块  500多项检测技术  300多种仪器
米格检测领域远景规划【四大战略】

人才战略
(最强大脑)
顶尖智库+工程师+培训
品牌渠道
(市占率第一)
样板+用户+市场化
资质平台
(业内最全最专)
检测认证+行业准入
标准高地
(成百上千)
产业标准+专利技术
4+1核心产业
半导体制造业
半导体设备
集成电路Foundry
先进封测
光电显示行业
LCD制造
OLED制造
Micro & Mini-LED
航空航天
 航空材料
高可靠性芯片
卫星及有效载荷
新能源&新材料
锂离子电池
技术材料
复合材料
院所及高校
微电子&光电子
新材料&新能源
科学仪器&电子

 

icon米格实验室icon
客户
海量大、中、小客户
缺少专业的实验平台
大院大所、高校
已覆盖900+头部
高科技企业
覆盖高科技企业1100多家
实验室
海量的实验室闲置找不到客户
开放式共享实验室
已覆盖450+实验室
分布式共享实验室
与25+国家级建立合作
集中式共享实验室
6家集中式共享实验室
实验前
技术咨询
方案设计
数据入库
实验中
实验管理
技术支持
专家支持
实验后
报告撰写
分析解读
数据沉淀

 

 

icon电镜技术icon

优势:电镜专业博士团队、自有SEM+FIB+TEM设备、24h交付能力、可提供电镜数据分析

扫描电镜
场发射扫描电镜
冷冻扫描电镜
原位高低温扫描电镜等
透射电镜
球差矫正透射电镜
原位透射电镜
生物透射电镜等
FIB技术
单束FIB
双束FIB
三束FIB
电镜制样
机械磨抛
电解双喷
超薄切片
FIB制备平面样
FIB制备截面样等

 

 

 

 

icon材料分析icon
优势:100种材料分析仪器、500多种检测方案、检测+IP赋能核心技术突破
 
成分分析
Auger/AES
TOF-SIMS
氧氮氢分析仪
碳硫分析仪
定氢仪
卡尔费休水分测定仪
无机物O,N,H
元素含量测试
形貌分析
体式显微镜
超景深显微镜
AFM
TEM
白光干涉三维轮廓仪
3DCT
环境扫描电镜
合力学性能
摩擦磨损
低温拉伸/压缩
微米划痕
维氏硬度
洛氏硬度
布氏硬度
DMA
TMA
物理性能
紫外可见分光光度计
BET
XRR
激光粒度仪
纳米粒度及zeta电位分析仪
导热系数仪
椭偏仪
磁学性能
PPMS
VSM
SQUID/MPMS
矢量网络分析仪
功率器件测试仪
+探针台
半导体参数测试
仪+探针台
铁电分析仪
电学性能分析
“IV曲线追踪仪/半导体参数测试仪+探针台
汞CV
DLTS
UPS
PL
霍尔效应
PPMS
塞贝克系数与电
导丰测试系统析

 

 

icon失效分析icon
优势:一站式全流程EFA&PFA、分析+整改方案
解剖制样
Decap-化学开封/激光开封/机械开封
取die
机械抛磨(MP)
氩离子抛光(CP)
层次去除(delayer)
FIB机械剖面制样
FIB透射制样
电学测试
半导体参数测试仪
探针台(probe)
ESD测试
显微形貌、结构分析
 X射线检测系统(2DX-ray)
X射线检测(3D CT)
体式光学显微镜
金相显微镜
扫描电子显微(SEM)
透射电子显微(TEM)
失效定位
超声波扫描显微镜(SAT)
微光显微镜(EMMI)
IR-OBIRCH
显微红外热成像
成分分析
能量散射谱仪(EDS)
俄歇电子谱(AES)
X射线光电子谱(XPS)
飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)
动态二次离子质谱仪(D-SIMS)
傅里叶红外光谱(FTIR)
内部气氛分析(RGA)

 

 

 

icon微纳加工icon
优势:8英寸及以下单步或多步工艺开发、具备成熟的微纳加工能力、检测+工艺IP服务
 
掩膜制造
电子束直写
高精密激光直写2-9寸版图
元素含量测试等
光刻技术
接触式曝光
步进式曝光
电子束曝光等
薄膜生长
磁控溅射
ALD
PECVD
电子束蒸发
热蒸发等
刻蚀技术
ICP刻蚀
RIE刻蚀
IBE刻蚀等
划片工艺
砂轮划片
激光划片机
激光打标机等
芯片代工
LED芯片
QCL
DFB
MEMS
应变计
真空变送器等

 

 

iconSEMI检测认证icon

优势:150余家主流半导体设备厂认可、一站式咨询与交付、行业权威报告

01
SEMI®S2 评估与认证
SEMI®S6示踪气体测试
SEMI®S2 开腔气体浓度测试
SEMI®S23 半导体工艺设备能效评估
半导体工艺设备工业卫生评估
SEMI®与设备EHS标准咨询与培训服务
SEMI®S13技术文档编制
SEMI® F47 电压骤降测试
SEMI®S10风险评估流程安全规范
HAZOP分析(危险与可操作性分析)
人员资质
SEMI Level 5QE - Certification Officer(5级签证官)
美国注册工业卫生师(CIH)
SEMI中国EHSS Advocacy Committee成员
SEMI EHS & Facility标委会成员
SEMI北美S2/S23/S30工作组成员
SEMI Level 3高级安全工程师能

 

iconDFM&SMTicon

优势:产品一次性直通率(1ppm)、长期可靠性(>10年)、检测+DFM整改结合

PCB设计&仿真
PCB设计
SI/仿真与测试
工艺设计
封装建库
PCB快板及批量生产
中小批量快板及批
量样板的生产加工
PCBA试制及量产
散热方案设计
散热仿真评估
散热测试实验
物料平台
为客户提供BOM匹配完善
元器件选型
完整BOM物料解决方案

 

icon合作伙伴icon

米格实验室截止到2024年,服务头部企业超2000家,科研机构合作超过900家,在半导体集成电路、物理、自动化、半导体制造、商业航天、新能源等产业用户1100余家,新材料半导体专业工程师1500人,平台实验室覆盖10个产品线的检测技术500余项

 

 

icon根据对不良器件结构与成分分析服务icon

在开始分析之前,首先明确分析的需求和预期的输出结果。这包括确定需要检测的具体参数(如金属间化合物、表面处理、制造工艺等)以及分析方法的选择

选择合适的分析方法和设备
根据需求,选择适当的分析方法和设备是关键。对于电子元件的故障和不良品分析,可以采用FIB技术、质谱分析、光谱分析、电学测试、结构解析、成分分析等多种手段来鉴定结构缺陷。此外,还需考虑信息量、准确性、精度、限制和试样形态等因素

 

 

icon针对GCMS测试服务icon
设备以及分析方法
本次实验使用的是GCMS设备。该设备具有高灵敏度和高分辨率,能够对样品中的有机化合物进行高效分离和检测
首先待测样品进行预处理,包括提取和净化,以去除干扰物质。
采用自动进样器进行样品的注入,确保样品的均匀性和稳定性。
色谱柱:使用毛细管柱,柱温程序控制,从初始温度逐渐升高至最终温度。
检测器:质谱检测器,选择离子化模式进行检测。
通过软件实时记录色谱峰的保留时间和相对强度,并进行定性和定量分析

 

 

icon企业介绍icon

北京聚睿众邦科技有限公司在2016年注册成立于北京市中关村,核心团队源于中科院,致力于推动仪器共享与成果转化。旗下品牌“米格实验室”定位于半导体与新材料领域专业科研检测平台,拥有电镜技术、材料分析、微纳加工、失效分析、SEMI认证、DFM&SMT等核心技术产品线,为高科技实体企业和科研单位提供“高质量、一站式、本地化”的科研检测服务。米格实验室以市场化的方式推进“让科研更简单”的理念,深耕半导体、光电、航空航天、新材料&新能源及院所高校领域。
平台以“盘活全球科研资源,振兴中国科学技术”为核心使命,以市场化的力量推动仪器共享与成果转化,目前拥有专家500名,开放式共享实验室450多家,分布式共享实验室25家,集中式共享实验室6家,已经累计服务了2000多家客户,积累了500多种检测技术解决方案

 

 

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